Приборная база

Техническое оснащение НИИ «Нанотехнологии и наноматериалы» составляет более 50 единиц современного оборудования.

 

Двухлучевой электронно-ионный микроскопический комплекс Neon 40 (Carl Zeiss, Германия).	Электронный сканирующий микроскоп высокого разрешения Merlin (Carl Zeiss, Германия) со спектрометрами

 

Высокоразрешающий двухлучевой электронно-ионный  микроскопический комплекс (фирма Carl Zeiss, Германия) позволяет определять структуру и фазовый состав приповерхностных слоев наноструктурированных материалов, осуществлять их послойный анализ и модификацию, проводить 3D реконструкцию, а также проводить механические испытания в колонне микроскопа при различных температурах.

 

Наноидентометр NanoIndenter G200 (MTS NanoInstruments, США)	Нанотрибоиндентометр TI-950 Triboindenter (Hysitron Inc., США).

 

Универсальный  наноиндентометр (фирма MTS NanoInstruments, США) - полностью автоматизированный измеритель механических характеристик материалов в наношкале.

 

Сканирующий зондовый комплекс микрорамановской спектроскопии ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ, Россия).	Сканирующий зондовый микроскопdi Innova SPM (Veeco-Digital Instruments, США).

 

 

Напольная двухколонная сервогидравлическая испытательная машина MTS 870 Landmark (MTS, США).	Динамический термомеханический спектрометр EXSTAR DMS 6100 (SII NanoTechnology Inc., Япония).

 

 Напольная сервогидравлическая испытательная система (фирма MTS, США) предназначена для механических испытаний различных материалов. В системе реализуются режимы "мягкой" и "жесткой" испытательной машины,  также возможно исследование многоцикловой усталости материалов. Специальный термостат позволяет проводить испытания в диапазоне температур от 77 до 900 К.

 

ИК-Фурье спектрометр FT/IR-6200 (Jasco, Япония).	Спектрофотометр Lambda 950 (PerkinElmer, США).

 

 

Термогравиметрический анализатор EXSTAR TG/DTA 7200 (SII NanoTechnology Inc., Япония).	Оптический профилометр Wyko NT 9080 (Bruker AXS, США).

 

Оптический профилометр Wyko NT 9080 (Bruker AXS, США). Методы измерения: интерферометрия вертикального сканирования, интерферометрия фазового контраста.

Прибор позволяет производить измерение 4 параметров шероховатости (с высокой точностью - порядка 1 ангстрема), а также волнистости в широком диапазоне значений.

 

Анализатор площади поверхности и размеров пор Nova 1200e (Quantachrome, США).	Порошковый рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker AXS, Германия).

 

Порошковый рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker AXS, Германия) предназначен для проведения качественного и количественного анализа фазового состава, структурных характеристик, анализа степени чистоты и кристалличности порошков, включая системы, содержащие наноразмерные объекты.

 

Анализатор размера частиц и дзета-потенциала Zetasizer Nano ZS (Malvern, Великобритания).	Формовочная машина для получения объемных композиционных материалов на полимерной основе DSM Xplore 5 (DSM Xplore, Голландия).

 

 

Установка для электроспиннинга NANON-01A (MECC CO, Япония).	Анализатор размера частиц LB-500 (Horibo, Япония)

 

 

Твердомер ПМТ-3 (ЛОМО, Россия)	Автоматический макро- и микротвердомер Duramin A300 (EmcoTest)